NVIDIA는 배포 방법을 논의하기 위해 두 개의 논문을 발표했습니다 TeraView EOTPR 시스템

2024년 2월 28일

TeraView테라헤르츠 기술 및 솔루션 분야의 선구자이자 선도 기업인 엔비디아는 반도체 업계의 연례 고장 분석 컨퍼런스인 ISTFA 2023에서 반도체 칩 레벨 고장 분석을 위한 엔비디아( TeraView)의 EOTPR 제품의 중요성에 대한 두 편의 논문을 발표했다고 발표했습니다.

NVIDIA의 논문은 집적 회로 오류에 대한 여러 사례 연구를 자세히 설명하고, 각 사례 연구에서 이러한 문제의 원인을 신속하게 파악하는 데 있어 EOTPR 제품의 중요성을 입증했습니다.

조이 리아오 박사가 발표한 논문 중 하나에서 NVIDIA는 'EOTPR 은 칩 레벨 FA, 특히 IO 오류에 대해 효과적인 비파괴 오류 격리 기술로 입증되었습니다'라고 명시하고 있습니다.

NVIDIA는 또한 'EOTPR 은 이제 칩 레벨 FA에서 활용할 수 있는 최초의 비파괴 기술로 당사의 FI 워크플로우에 통합되었습니다. 우리는 계속해서 이 기술의 유용성을 탐구하고 실리콘 다이로 확장하는 한편, 볼륨 FA의 처리량과 워크플로우를 개선하여 OSAT/파운드리 파트너에서 EOTPR 기능을 사용할 수 있도록 노력하고 있습니다.'

마틴 이가라시, TeraView의 반도체 담당 부사장은 '이번컨퍼런스에서 이 두 논문을 발표한 리아오 박사와 장 박사에게 감사의말을 전하고 싶습니다.이 논문은 고장 분석 실험실에 EOTPR 기술을 배포하는 데 대한 NVIDIA의 자신감을 나타내며, 공급업체들도 동일한 작업을 수행하도록 권장합니다."라고 말했습니다.

TeraView의 CEO인 Don Arnone 박사는'칩 레벨 고장 분석에 사용되는 기록 기술로 TeraView의 EOTPR 제품이 채택된 것은 중요한 이정표입니다. 중요한 것은 NVIDIA가 TeraView 시스템을 일반 테스트 장비와 함께 사용하고 EOTPR 을 일반 워크플로우에 통합하고 있다는 점입니다. 우리는 첨단 반도체 패키징에 대한 요구를 충족하기 위해 NVIDIA 및 공급업체와 협력하게 된 것을 자랑스럽게생각합니다.

문서 링크:

논문 1: 칩 수준 고장 분석 워크플로에 시간 영역 반사 측정법 통합: 사례 연구
논문 2: 고급 칩 패키지 불량을 위한 고정밀 펄스 반사 계측 기반 결함 위치 파악 접근법